VIC-2Dは材料や部品の全視野の変形計測やひずみ解析を、非接触、非破壊で2次元（面内方向）計測可能なシステムです。
システムは1台の高解像度デジタルカメラを用いて被計測物の表面の変形を録画し、画像相関法によって変形やひずみを出力します。キャリブレーションは画像内の2点間距離を入力するだけになります。3次元的な形状があるものや、3次元的な変形をするサンプルには正当な解析ができませんが、形状がフラットなものや、引張試験など奥行方向の変形成分が少ないテストには簡単に実施可能です。
最近はSEM画像からのDIC解析ニーズも増えてきており、EBSD画像などとの組合せ計測でひずみデータを取得するのに重宝されています。
システムは1台の高解像度デジタルカメラを用いて被計測物の表面の変形を録画し、画像相関法によって変形やひずみを出力します。キャリブレーションは画像内の2点間距離を入力するだけになります。3次元的な形状があるものや、3次元的な変形をするサンプルには正当な解析ができませんが、形状がフラットなものや、引張試験など奥行方向の変形成分が少ないテストには簡単に実施可能です。
最近はSEM画像からのDIC解析ニーズも増えてきており、EBSD画像などとの組合せ計測でひずみデータを取得するのに重宝されています。
特長
- ●デジタル画像相関法に基づいた計測原理
- 計測対象表面の各計測点の変位は、サブピクセルの精度で計算。
- ●VIC-Snapによる計測の一貫性を提供
- 対応している静的カメラ、ハイスピードカメラを専用ソフトウエアVIC-Snapで制御することが可能な為、ユーザの計測負担を軽減します。外部アナログ取込のDAQにも対応している為、画像とアナログ電圧の複合計測にも対応しております。
計測・測定アプリケーション例
引張試験
電子顕微鏡画像によるDIC解析とSEM-EBSD像の比較
Microstructural origin of anisotropic tensile ductility of Al-Si alloy manufactured by laser powder bed fusion
垂直 相当ひずみ
水平 相当ひずみ
Y.Otani, N.Takata et al., Scripta Mater. 226(2023),115259.Nagoya University
in-situ SEM画像を用いたDIC解析による全固体電池内のひずみ分布解析
主な仕様
| VIC-2D LS (Low Speed) | VIC-2D HR (High Resolution) | VIC-2D HS (High Speed) | VIC-2D UHS (Ultra High Speed) | |
| 解像度 | 2.3～45M Pixel | 12.3M Pixel | 1～8M Pixel | 400 x 250 Pixel |
| フレームレート | 1～400fps | 335fps | 500,000fps | 5,000,000fps |
| 計測精度 | 変位:面内方向が1/100pixel、ひずみ:100μst～ | |||
| 計測ひずみレンジ | 0.005～2,000%以上 | |||
| アナログ電圧入力 | 32ch | 16ch | 8ch | 4ch |
| リアルタイム解析 | 〇（10Hz） | 〇（10Hz） | ー | ー |
| リアルタイム電圧出力 | 200Hz（4ch） | 200Hz（4ch） | ー | ー |
| FFT Module対応 | 〇（Option Module） | 〇 | 〇 | ー |
| 読み込み可能ファイル | TIFF/BMP | |||
| 推奨PCスペック | メモリ32GB、内臓SSDストレージ | |||
| 解析データ内容 | 変位、ひずみ、応力、速度、加速度、他 | |||
